平场校正用于校正由显微镜或照明引起不均匀的背景。请先取出样品并捕获不均匀的背景图像。然后将样品放在显微镜上并启用平场校正。请确保在拍摄背景图像时删除样品。
当条件发生变化时,包括光学系统、照明、曝光时间或增益,必须在新的条件下再次执行FFC。
- 1.首先取出样品以获得不均匀的背景。
- 2.设置背景图像的数量,这些不均匀的背景图像将被平均并用作FFC的参考。
- 3.当“启用”按钮为灰色时,单击“启用”按钮。
- 4.将样品放回原处。
请检查以下结果供您参考。
平场校正用于校正由显微镜或照明引起不均匀的背景。请先取出样品并捕获不均匀的背景图像。然后将样品放在显微镜上并启用平场校正。请确保在拍摄背景图像时删除样品。
当条件发生变化时,包括光学系统、照明、曝光时间或增益,必须在新的条件下再次执行FFC。
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