PLM100系列偏光显微系统
产品介绍
偏光显微镜(Polarizing Light microscope)是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不能，而必须利用偏光显微镜。反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器。
产品特点
- 标准工作距系列/长工作距系列物镜(可选)
- 成像光路：1X (筒镜焦距180mm)，可定制不同倍率缩倍镜
- 成像光路像面尺寸：25mm
- 成像光路光谱范围：可见光
- 相机接口：C/M42/M52等可选
- 照明方式：临界照明/科勒照明可选
- 照明光源：10W白光/蓝光LED照明可选
系统配置与参数
专业的偏振光显微系统，为各向异性材料分析提供精准解决方案
系统工作原理
PLM100系列偏光显微系统利用光的偏振特性，通过起偏器和检偏器的配合，对具有双折射性质的物质进行观察和分析
起偏器
将自然光转换为线偏振光，位于照明光路中，为样品提供偏振照明
样品作用
双折射材料将偏振光分解为两束振动方向互相垂直、传播速度不同的偏振光，产生光程差
检偏器
与起偏器呈90度正交放置，分析通过样品后的偏振光状态，形成干涉图像
成像系统
将干涉图像放大并传递到相机或目镜，呈现材料的各向异性特征和应力分布
物镜系列参数
标准工作距物镜系列 (45mm齐焦距，管镜焦距200mm)
| 型号 | 放大倍率 | 数值孔径(NA) | 工作距离 | 焦距 | 分辨率 | 物方视场 | 像方视场 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POL2.5XA | 2.5X | 0.075 | 6.2mm | 80mm | 4.46μm | 10mm | 25mm |
| POL5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 39mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POL10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| POL20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8μm | 1.1mm | 25mm |
| POL50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6μm | 0.44mm | 25mm |
长工作距物镜系列 (60mm齐焦距，管镜焦距200mm)
| 型号 | 放大倍率 | 数值孔径(NA) | 工作距离 | 焦距 | 分辨率 | 物方视场 | 像方视场 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POLL2XA | 2X | 0.055 | 33.7mm | 100mm | 6.1μm | 12.5mm | 25mm |
| POLL5XA | 5X | 0.14 | 33.6mm | 40mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POLL10XA | 10X | 0.28 | 33.4mm | 20mm | 1.2μm | 2.5mm | 25mm |
| POLL20XA | 20X | 0.34 | 29.5mm | 10mm | 0.8μm | 1.25mm | 25mm |
| POLL50XA | 50X | 0.5 | 18.9mm | 4mm | 0.7μm | 0.5mm | 25mm |
系统技术规格
光学系统
- 成像光路
- 1X（筒镜焦距180mm），可定制不同倍率缩倍镜
- 像面尺寸
- 25mm
- 光谱范围
- 可见光
- 筒镜焦距
- 200mm
照明系统
- 照明方式
- 临界照明/科勒照明可选
- 光源
- 10W LED
- 光源选项
- 白光LED/蓝光LED可选
偏振系统
- 相机接口
- C/M42/M52等可选
- 物镜螺纹
- M26×0.705
- 偏振配置
- 起偏器+检偏器（90°正交）
典型应用案例
PLM100系统在各领域的专业应用
地质学、岩石学、矿物质分析
PLM100系列在地质研究中发挥核心作用，能够精确分析矿石的晶体结构和成分。系统特别适用于金属矿石（氧化物、硫化物、硅酸盐）的特征分析，以及石棉纤维检测和煤岩组分分析。
- 准确鉴定矿物种类和晶体结构
- 分析矿石成分特征
- 石棉纤维定量检测
- 煤炭组分分析
- 晶体光学性质测定
更多应用领域
纺织品和纤维检测
PLM100系列在纺织工业质量控制中具有重要应用价值，能够准确识别纤维种类、评估纤维取向度、分析织物结构，为纺织品成分分析和质量评估提供科学依据。
- 天然纤维与合成纤维鉴别
- 纤维取向度定量分析
- 织物结构表征
与其他显微技术对比
| 对比技术 | PLM100系统优势 |
|---|---|
| 明场金相显微镜 | PLM100能够观察到明场显微镜无法检测的应力双折射现象，提供材料内部应力信息 |
| 普通光学显微镜 | PLM100通过偏振光技术揭示材料的各向异性特征，提供晶体学和应力分析能力 |
| 荧光显微镜 | PLM100无需染色处理，直接观察材料本征光学性质，操作简便且不改变样品性质 |
系统配置与配件
标准配置
- PLM100主机系统
- 起偏器模块
- 检偏器模块
- 10W LED照明系统
- 标准C接口适配器
可选配件
- 标准工作距物镜系列（2.5X-50X）
- 长工作距物镜系列（2X-50X）
- M42/M52相机适配器
- 缩倍镜系统
- 临界照明/科勒照明模块
- 白光/蓝光LED光源
- 补偿器套件
- 旋转载物台
PLM100系列采用模块化设计，可根据具体分析需求灵活配置
PLM100系统优势
专业的偏振光显微技术，揭示材料各向异性特征
晶体结构分析
精确鉴定矿物晶体种类，分析晶体光学性质，为地质研究提供可靠数据。
应力双折射检测
非破坏性检测材料内部应力分布，通过光弹性效应实现应力可视化。
纤维材料鉴别
准确识别天然与合成纤维，评估纤维取向度，支持纺织品质量控制。
高消光比设计
专业偏光物镜消除内应力干扰，确保偏振成像质量和测量精度。
无需样品处理
直接观察材料本征光学性质，无需染色或特殊制备，保持样品原始状态。
定量分析能力
配合补偿器可进行光程差测量，实现材料厚度和双折射率的定量分析。