SWIR2048L3A-CL80K 短波红外相机
产品介绍
SWIR2048L3A-CL80K 是一款面向高速在线检测与短波红外分选场景的国产 InGaAs 线扫相机，采用 2048 像素线阵设计，覆盖 900–1700nm 光谱范围，通过 CameraLink Full 接口实现 79K@2048×1 高速传输，并配备 512MByte 缓存、14 bit ADC 与低于室温 40℃ 的制冷系统。
产品特点
- 2048 像素国产 InGaAs 线扫传感器
- 900–1700nm 光谱响应范围
- 79K@2048×1 高速线扫成像
- 70%@1550nm 量子效率
- 14 bit ADC 与 512MByte 缓存
- CameraLink Full 接口
- 全局快门设计
- 低于室温 40℃ 制冷能力
- M42 镜头接口
- 支持 SDK 与 CLView 软件
产品详情
| 规格参数 | |
| 型号 | SWIR2048L3A-CL80K |
| 传感器 | 国产2048线扫传感器 |
| 传感器类型 | InGaAs 短波红外（SWIR）线阵图像传感器 |
| 快门类型 | 全局快门 |
| 色彩类型 | 黑白 |
| 分辨率 | 2048 pixels (2048×1) |
| 传感器尺寸 | 25.6mm |
| 像素尺寸 | 12.5µm × 12.5µm |
| 光谱范围 | 900nm-1700nm |
| 性能参数 | |
| 帧率 | 79K@2048×1 |
| ADC | 14 bit |
| 内存 | 512MByte |
| 量子效率 | 70%@1550nm |
| 转换增益 | 6.1 e/ADU (GAIN=1) |
| 动态范围 | 64.1 dB (GAIN=1) |
| 读出噪声 | 60.4e- (GAIN=1) |
| 满井电荷 | 96.4ke- (GAIN=1) |
| 最大信噪比 | 49.8 dB (GAIN=1) |
| 曝光时间范围 | 1us-1s |
| 接口参数 | |
| 数字IO | 1路光耦隔离输入，1路光耦隔离输出 |
| 镜头接口 | M42 |
| 数据接口 | CameraLink Full |
| 数据格式 | Mono 14 |
| 制冷温差 | 低于室温40摄氏度 |
| 电源供电 | DC 12V供电 |
| 物理与环境参数 | |
| 外形尺寸 | 68mm×68mm×90.3mm |
| 重量 | 485g |
| 功耗 | TBD |
| 工作温度 | 工作温度 -40 ~ 70℃ |
| 工作湿度 | 20 - 80%，无冷凝 |
| 存储温度 | 储藏温度 -40 ~ 70℃ |
| 操作系统/驱动 | 提供SDK开发包和基于Delsa采集卡的CLView软件 |
| 认证 | CE，FCC |
产品概述
SWIR2048L3A-CL80K 是一款基于 国产2048线扫传感器 的国产 InGaAs 线扫短波红外相机，面向高速在线检测、材料分选与工业线扫成像场景，兼顾高线频采集、短波红外响应和稳定工业接口集成能力。
- 短波红外响应：覆盖 900nm-1700nm 波段，适用于材料识别、水分检测和在线分选等应用。
- 高速线扫输出：支持 79K@2048×1 线频成像，适合连续运动目标的实时检测。
- 高质量信号链：采用 14 bit ADC、512MByte 缓存与 Mono 14 输出格式。
- 制冷控温：低于室温40摄氏度，有助于提升长时间运行稳定性和暗噪声控制表现。
- 工业集成接口：通过 CameraLink Full 输出，结合 1路光耦隔离输入，1路光耦隔离输出 实现同步触发与系统联动。
- 紧凑结构：机身尺寸 68mm×68mm×90.3mm，镜头接口为 M42，便于集成到线扫光学系统中。
核心性能指标
线频
79K@2048×1
量子效率
70%@1550nm
接口
CameraLink Full
产品总结
SWIR2048L3A-CL80K 以国产 InGaAs 线扫传感器、CameraLink Full 高速链路和 900–1700nm 制冷成像能力为核心，适用于高速分选、在线检测与科研线扫成像等场景。
量子效率曲线 #
SWIR2048L3A-CL80K 900–1700 nm 典型量子效率响应
产品尺寸 #
SWIR2048L3A-CL80K 对应外形尺寸图
系列亮点#
围绕高速线扫、短波红外响应和稳定工业集成进行设计
高速线扫采集
2048 像素线阵结合 79K@2048×1 高速输出，适合连续运动目标的实时扫描与在线检测。
短波红外识别能力
覆盖 900–1700nm 光谱范围，在水分分析、材料分选、硅片检测和透视成像中更具优势。
工业系统集成
CameraLink Full、光耦隔离输入输出、M42 镜头接口与 SDK/CLView 软件组合，便于快速接入线扫检测系统。
常见问题解答
了解更多关于SWIR短波红外相机的专业知识
深入了解SWIR相机
短波红外（SWIR）相机、核心与传感器，是先进成像系统的重要组成部分。SWIR技术覆盖900~1700纳米波段，具备在恶劣环境下出色的穿透能力，例如可穿透雾、烟、尘等，实现极限条件下的清晰成像。
SWIR相机主要依赖短波红外光的反射，与可见光波段相似，补充了热成像相机（LWIR）无法覆盖的应用范围，实现更完整的成像解决方案。它们体积小、集成灵活，便于在多种工业和商业系统中应用。
SWIR相机的高分辨率与高灵敏度可满足精密检测与高要求应用，能够探测样品中的微小变化与异常，非常适合质量控制和缺陷检测。部分型号支持制冷，进一步保证了在高温或高噪声环境下的成像品质。
为了降低系统成本、提升集成效率，现代SWIR相机普遍采用标准光学接口和紧凑设计，适应更广泛的应用需求。随着成像市场和技术的不断发展，SWIR相机凭借其独特优势，已成为多行业高端成像和感知的关键技术之一。
