SWIR / 10 GigE
半导体行业成像解决方案
SWIR + 10 GigE 165 fps，晶圆隐裂一次检测
专业定制方案
技术支持服务
成熟应用案例
应用案例
太阳能电池板内部缺陷检测
2024.01.16
技术特点与优势
为半导体行业量身定制的专业成像技术
先进成像技术
采用业界领先的成像传感器和图像处理算法，确保卓越的成像质量和性能表现。
灵活集成方案
提供多种接口和SDK支持，轻松集成到现有系统中，满足不同应用场景需求。
可靠稳定运行
经过严格测试和验证，确保在各种工业环境下都能稳定可靠地运行。
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