新品上市 | sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机

图谱光电全新推出sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机,搭载Gpixel GLT5008BSI背照式图像传感器,提供UV和VIS两种光谱版本,为高端工业检测与科学成像提供国产化高性能成像解决方案。


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随着平板显示、PCB、半导体等高端制造领域对检测精度与产线节拍的要求不断提高,在高速连续大幅面检测中,传统面阵相机幅宽与分辨率难兼顾、高速短曝光下弱光信噪比不足、连续扫描吞吐效率难匹配产线节拍,这些矛盾直接制约成像质量与检测效率。


而TDI(时间延迟积分)线扫成像技术,正是破解上述矛盾的关键路径:通过对同一移动目标进行多次曝光和信号累加,从而在保持高扫描速度的同时显著提升信噪比和灵敏度。


图谱光电全新推出sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机,搭载Gpixel GLT5008BSI背照式图像传感器,提供UV和VIS两种光谱版本,为高端工业检测与科学成像提供国产化高性能成像解决方案。

- 图谱上新 -

sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图02

产品亮点

PRODUCT HIGHLIGHTS


1.科学级传感器与超高分辨率

8K级扫描:采用Gpixel GLT5008BSI科学级CMOS传感器,提供8208×256的分辨率,单次扫描覆盖面积大幅提升。

双感光阵列:该系列具有P1、P2两个感光阵列,支持256级TDI,灵活适配不同检测需求。


2.极致的高速与吞吐能力

超高行频:最高支持1000 kHz(8bit)行频,完美匹配高速产线节拍。

无损高速传输:搭载40G / 100G CoF高速数据传输接口,确保海量图像数据实时传输无压力。


3.高灵敏度与宽光谱响应

双光谱版本:提供UV(180-1100nm)和VIS(300-1100nm)两种版本,满足不同材料的检测需求。

sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图03

▲GLT5008BSI光谱响应曲线

可见光版本(VIS)

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▲GLT5008BSI光谱响应曲线

紫外版本(UV)

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▲AR保护玻璃透过率曲线

sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图06

▲紫外石英玻璃透过率曲线

超高量子效率(QE):紫外波段(266nm)QE达65.8%,可见光波段(460nm)QE高达94.2%,弱光捕捉能力极强。

极高电荷转移效率:>0.99994,保证图像边缘清晰无拖影。


4.科学级制冷与稳定性

深度制冷:内置高效制冷模块,传感器工作温度最低可达 0℃(支持风冷/水冷),有效抑制热噪声(暗电流最低仅373 e-/s/pix@10℃)。


5.灵活易用

面阵辅助对焦:支持TDI线扫和Area面阵工作模式,可通过Area模式轻松完成对焦。


产品参数

PRODUCT PARAMETER


sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图07


应用领域

APPLICATION FIELDS


半导体检测

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sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图09

可为半导体检测提供成像解决方案,满足微米、纳米尺度缺陷检测的高速成像与高精度识别需求。


平板显示检测

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sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图11

可用于LCD、OLED等显示面板的坏点、亮暗斑、色彩不均及像素结构检测,满足高分辨率显示器件的自动化质量控制需求。


PCB检测

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sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图13

可对PCB线路、元器件位置、焊点质量及表面缺陷进行高速成像,为自动光学检测和电子制造质量控制提供可靠支持。


荧光成像

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sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图15

可捕捉细胞、组织及生物分子的微弱荧光信号,满足多通道荧光观察、活细胞研究和高通量生物成像需求。


数字病理

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sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图17

可实现病理切片的高分辨率数字化采集,清晰呈现细胞和组织结构,为远程阅片、病例存档及AI辅助分析提供图像基础。


基因测序

sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图18

可精准检测基因测序中的微弱荧光信号,高速、稳定地完成高通量测序成像,助力碱基精准判读。



往期精彩回顾


sTDI08KA系列科学级TDI线扫相机配图19



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